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| Wafer Mapping Checking 軟體 |
| 貨號 : A2000123 |
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設計單位所產生之晶圓向量檔(wafer)，為確保其正確性必須與上游廠商所提供之影像檔做比對!
設計單位所產生之晶圓向量檔(wafer)，為確保其正確性必須與上游廠商所提供之影像檔做比對，
由於晶圓上的Die數量相當多(多則幾千顆)，經常需要花費相當多的時間去檢核，也不保證一定正確。
本軟體可做影像與向量圖之比對，快速顯示其差異處，以利使用者做分析，
可省略很多人工比對的時間並減少錯誤的機率!
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前往Wafer Mapping Checking 軟體影音>> |
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下載Wafer Mapping Checking說明書.pdf |
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